Fotoelektra: modulių įtrūkimai, karštieji taškai ir PID efektai yra trys svarbūs veiksniai, turintys įtakos kristalinio silicio fotovoltinių modulių veikimui. Šiandien aš jums parodysiu ląstelių įtrūkimų priežastis, kaip joms nustatyti ir užkirsti kelią.
1. Plyšių susidarymas ir klasifikavimas fotovoltiniuose moduliuose
Cracks are a relatively common defect in crystalline silicon photovoltaic modules. In layman's terms, they are micro-cracks that are invisible to the naked eye. Due to the characteristics of its own crystal structure, crystalline silicon components are very prone to cracking. In the process flow of crystalline silicon module production, many links may cause cell cracks. The root cause of cracks
Išorinė jėga: Akumuliatorių paveiks išorinė jėga suvirinimo, laminavimo, rėminimo ar tvarkymo, bandymo ir tt metu. Kai parametrai yra netinkamai nustatyti, dėl įrangos gedimo arba netinkamo veikimo gali atsirasti įtrūkimų.
Aukšta temperatūra: elementas nešildomas žemoje temperatūroje, o po to per trumpą laiką staiga susiduria su aukšta temperatūra, o vėliau plečiasi, o tai sukels įtrūkimus, tokius kaip per didelė suvirinimo temperatūra, nepagrįstas laminavimo temperatūros nustatymas ir kiti parametrai.
Žaliavos: žaliavų defektai taip pat yra vienas iš pagrindinių veiksnių, sukeliančių įtrūkimus.
Pagal ląstelės plyšio formą apytiksliai galima suskirstyti į 5 tipus: medžio plyšys, visapusis plyšys, įstrižai, lygiagrečiai šynai, statmenai tinkleliui ir įtrūkimus, kurie prasiskverbia per visą ląstelę.
2. The impact of "cracking" on component performance
Kristalinio silicio saulės elementų generuojama srovė daugiausia surenkama ir eksportuojama šynų linijomis ir plonomis tinklelio linijomis, kurių paviršiai yra statmeni vienas kitam. Todėl, kai dėl įtrūkimų (dažniausiai įtrūkimų lygiagrečiai šynoms) plonos tinklelio linijos nutrūksta, srovė nebus efektyviai tiekiama į šynas, todėl elementas iš dalies arba net suges, be to, gali atsirasti šiukšlių, karštų taškų ir kt. ., tuo pačiu metu sukelia komponentų galios susilpnėjimą.
Third, the method of identifying "cracks"
EL (elektroliuminescencija, elektroliuminescencija) yra tam tikra saulės elementų ar komponentų vidinių defektų aptikimo įranga, kuri yra paprastas ir efektyvus būdas aptikti įtrūkimus. Naudojant kristalinio silicio elektroliuminescencijos principą, komponento artimasis -infraraudonųjų spindulių vaizdas fiksuojamas didelės raiškos infraraudonųjų spindulių kamera, kad būtų galima gauti ir nustatyti komponento defektus. Jo pranašumai yra didelis jautrumas, greitas aptikimo greitis ir intuityvūs rezultatai. Žemiau esančioje nuotraukoje yra EL bandymo rezultatas, kuriame aiškiai matyti įvairūs defektai ir įtrūkimai.
Fourth, the reasons for the formation of "cracks"
There are many factors that cause module cracks, and there are many types of cracks, but not all cracks will affect the cells, not to mention "hidden" discoloration, as long as scientific prevention can properly prevent the modules from cracking. During the production process, improper external force intervention should be avoided for the cells, and attention should be paid to the temperature range of the storage environment. During the welding process, the battery should be kept warm in advance (hand welding). The temperature of the soldering iron should meet the requirements. In the process of module production, transportation, installation and maintenance, considering the cracking characteristics of crystalline silicon modules, it is necessary to pay attention to and improve the operation process in each process of installing the power station to minimize the occurrence of module cracks.
Penki, pagrindiniai punktai, kaip išvengti įtrūkimų fotovoltiniuose moduliuose
Gamybos procese ir vėliau sandėliuojant, transportuojant ir montuojant venkite netinkamo išorinės jėgos įsikišimo į akumuliatoriaus elementus, taip pat atkreipkite dėmesį į laikymo aplinkos temperatūros kitimo diapazoną.
